Ngày 28-2, một nhà khoa học Trung Quốc đã bị tuyên án 2 năm tù giam vì tội đánh cắp công nghệ pin thế hệ mới từ một công ty năng lượng của Mỹ, nơi đối tượng này làm việc.

Hongjin Tan, 36 tuổi, công dân Trung Quốc và cư trú hợp pháp ở Mỹ, bị bắt giữ vào tháng 12-2018 và nhận tội đánh cắp các bí mật thương mại hồi tháng 11 năm ngoái. Theo Bộ Tư pháp Mỹ, giá trị thị trường của công nghệ pin thế hệ mới mà Tan đánh cắp lên tới hơn 1 tỷ USD. Trợ lý Bộ trưởng Tư pháp Mỹ John Demers nhấn mạnh: “Cuộc điều tra và hành động truy tố này đã vạch trần 1 trường hợp khác về những nỗ lực liên tục của Trung Quốc nhằm đánh cắp bản quyền sở hữu trí tuệ của Mỹ”. Mặc dù Bộ Tư pháp Mỹ không tiết lộ thông tin về doanh nghiệp bị đánh cắp bí mật, song trang LinkedIn về thân thế của Tan cho thấy, đối tượng này từng là nhà khoa học làm việc trong nhóm nghiên cứu và phát triển công nghệ đã bị giải thể của Cty năng lượng đa quốc gia Phillips 66 ở bang Oklahoma.

T.N